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QB/T 4014一2010 電子鼓通用技術(shù)條件

2023-02-23 13:31:42
QB/T 4014一2010 電子鼓通用技術(shù)條件

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QB/T 4014一2010.General technical requirements of electronic drum.

b)保持溫度在(40士2) C,將濕度逐漸升至(90土2) %,保持48h。 先將相對(duì)濕度在0.5h內(nèi)降至85%以下,按0.7C/min~ 1'C/min的平均速率降溫至正常試驗(yàn)大氣條件。取出受試產(chǎn)品,恢復(fù)2h后,接通受試產(chǎn)品電源進(jìn)行檢驗(yàn)。

5.10.1.4低溫負(fù)荷試驗(yàn)

將無(wú)包裝受試產(chǎn)品放入符合GB 2423.1一2001要求的試驗(yàn)箱(室)內(nèi),按0.7"C/min~ 1C/min的平均速率降溫至(0+3) C,接通受試產(chǎn)品電源使之正常工作(打開(kāi)自動(dòng)節(jié)拍,主音量調(diào)至*大音量約2/3的位置)。持續(xù)工作1 h。按0.7C/min~1 "C/min的平均速率升溫至正常試驗(yàn)大氣條件。取出受試產(chǎn)品,恢復(fù)2h后,接通受試產(chǎn)品電源進(jìn)行檢驗(yàn)。

5.10. 1.5 低溫貯存試驗(yàn)

將無(wú)包裝受試產(chǎn)品放入符合GB 2423.1 - 2001要求的試驗(yàn)箱(室)內(nèi)(為防止凝露現(xiàn)象,允許將受試產(chǎn)品用塑料薄膜密封起來(lái),必要時(shí)可在密封套內(nèi)放入吸濕劑),按0.7"C/min~ 1'C/min的平均速率降溫至(-25士3) C,保持2 h。按0.7"C/min~ 1 "C/min的平均速率升溫至正常試驗(yàn)大氣條件。取出受試產(chǎn)品,恢復(fù)2h后,接通受試產(chǎn)品電源進(jìn)行檢驗(yàn)。

5.10.2機(jī)械環(huán)境 試驗(yàn)

按GB/T 12106 - 2007中4.2的規(guī)定檢驗(yàn)。

6檢驗(yàn)規(guī)則

6.1產(chǎn)品應(yīng)由收購(gòu)部門]驗(yàn)收或委托生產(chǎn)廠質(zhì)量管理部門檢驗(yàn)。合格產(chǎn)品應(yīng)附產(chǎn)品合格證方可出廠。.

6.2當(dāng)對(duì)產(chǎn)品有特殊要求時(shí),應(yīng)由供需雙方根據(jù)合同協(xié)商具體的檢驗(yàn)項(xiàng)目和技術(shù)要求。

6.3檢驗(yàn)分為出廠檢驗(yàn)和型式檢驗(yàn)。

6.3.1出廠 檢驗(yàn)

6.3.1.1 出廠檢驗(yàn)的抽樣方案應(yīng)符合GB/T 2828.1- 2003中關(guān)于正常檢查一次抽樣方案的規(guī)定。

6.3.1.2出廠 檢驗(yàn)的項(xiàng)目、不合格類別、檢驗(yàn)水平、接收質(zhì)量限(AQL)應(yīng)符合表3的規(guī)定。

6.3.1.3 出廠檢驗(yàn)不合格,該批退回生產(chǎn)廠,將不合格項(xiàng)目進(jìn)行整理和調(diào)整。整理、調(diào)整后的產(chǎn)品可再次提交檢驗(yàn)。不合格批的再提交應(yīng)符合GB/T 2828.1- 2003中7.6的規(guī)定。

(QB/T 4014一2010 電子鼓通用技術(shù)條件標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容僅部分展示)

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